鐵電壓電分析儀 

模塊化設(shè)計(jì)的Huace FE-2000具有優(yōu)異的擴(kuò)展性。

• FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測試；
• MR模塊-磁阻和鐵性材料測試；
• RX模塊-弛豫電流測試；
• DR模塊-自放電測試。
  

        測試基本單元：包括內(nèi)置完整的計(jì)算機(jī)主機(jī)和測試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測試軟件等。

二、鐵電壓電分析儀FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測試功能：
1、Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測試頻率（增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz）；
2、Static Hysteric 靜態(tài)電滯回線測試；
3、PUND 脈沖測試；
4、Fatigue 疲勞測試；
5、Retention 保持力；
6、Imprint 印跡；
7、Leakage current漏電流測試；
8、Thermo Measurement 變溫測試功能。

FE模塊可選測試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；
Piezo Measurement壓電性能測試；
Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試；
In-situ Compensation 原位補(bǔ)償；
DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能；
Impedance Measurement 阻抗測試 (僅適用于高速增強(qiáng)型)。

三、鐵電壓電分析儀技術(shù)說明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV）；
電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；
zui小脈沖寬度：50ns；
zui小上升時(shí)間：10ns；
zui大疲勞頻率：16MHz；
電流放大范圍：1pA～1A；
zui大負(fù)荷電容：1nF；
輸出電流峰值：+/-1 A。

可擴(kuò)展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。


MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測試，樣品上的電壓降通過高精度四點(diǎn)測試。

RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。

DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
由于測試條件非常接近實(shí)際情況，因此通過這種方式可容易地測試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。

針對工業(yè)方面的應(yīng)用，Huace FE-2000提供了256個(gè)自動(dòng)測試的通道，大大擴(kuò)展了該儀器的測試功能。

以上所有的模塊可根據(jù)您的測試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。