產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
半導體塞貝克系數(shù)電阻測試儀是由華測儀器****生產(chǎn)的一款簡單易用和優(yōu)異的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1500°C溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率，主要服務于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
詳情介紹：
半導體塞貝克系數(shù)電阻測試儀
產(chǎn)品特點
01.文本編輯02.重復測量可少的輸入?yún)?shù)
03.實時測量分析
04.測量曲線比較:多達32條曲線
05.曲線扣除
06.曲線放大縮小
07.一階/二階求導
08.多重峰分析
09.樣品溫度多點校正
10.多種方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)
11.焓變多點校正
12.熱流Cp測量
13.評估結(jié)果保存及導出
14.ASCII數(shù)據(jù)導入與導出
15.數(shù)據(jù)生成到MS Excel
16.信號控制測量測序
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.寬溫區(qū)覆蓋與高適應性支持 RT 至 1500℃ 超寬溫度范圍，兼容低溫至超 高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；
提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。
2.高精度與多功能集成
塞貝克系數(shù)電阻測試儀塞貝克系數(shù)測量范圍 1～2500μV/K ，準確度達 ±7% ，重復性 ±3% ，準確捕捉微弱熱電效應；
電導率測量范圍覆蓋 0.01～2×10^5S/cm ，準確度 ±5～8% ，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析；
采用靜態(tài)直流法（塞貝克系數(shù)）與四端法（電阻率），確保測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。
3.靈活兼容性與操作便捷性
支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；
可調(diào)探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結(jié)構(gòu)，保障樣品接觸穩(wěn)定性，減少測量誤差；
電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區(qū)與材料特性。
4.高穩(wěn)定性與長周期測試能力
電源輸出 0～1A ，具備長期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實驗與長時間數(shù)據(jù)采集；
配備K/S/C型熱電偶，實現(xiàn)準確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。
產(chǎn)品參數(shù)
01.溫度范圍:RT~800/1100/1500°002.測量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間
05.樣品尺寸(園柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，中6mm，23mm
06.樣品尺寸(園盤狀):10、12.7、25.4 mm
07.可調(diào)探頭距離:4、6、8mm
08.塞貝克系數(shù)測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%
09.電導率測量范圍:0.01~2*10^5s/cm準確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%
10.電源:0~ 1A，具長期穩(wěn)定性
11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
12.熱電偶:K/S/C型
應用領域
01.熱電材料開發(fā)與性能優(yōu)化測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導率，計算ZT值(熱電優(yōu)值)評估材料在高溫(如1500°C)或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率
02.能源材料與器件研究
鋰離子電池電極材料、因態(tài)電解質(zhì)的電阻率與界面接觸特性分析燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試
03.電子與功能材料表征
半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關(guān)系曲線測定
04.工業(yè)材料質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化
合金、陶瓷、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測，指導燒結(jié)工藝參數(shù)調(diào)整高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況(如真空、惰性氣氛)下的電學行為評估
05.科研與標準化測試
高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究依據(jù)國際標準(如ASTM E1225)開展材料熱電性能認證測試
