產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：介電常數(shù)介電溫譜測定儀
產(chǎn)品型號(hào)：HCWP-1000
產(chǎn)品廠商：華測
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
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簡單介紹：

介電常數(shù)介電溫譜測定儀由華測儀器生產(chǎn)，電阻爐和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時(shí)間和保持時(shí)間及自然降溫到室溫所需時(shí)間，在試驗(yàn)中也可改寫設(shè)定溫度值，節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間并提高實(shí)驗(yàn)速度。同高頻爐相比，無特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單，有降溫系統(tǒng)安心可靠。以提高試驗(yàn)人員的工作效率，實(shí)現(xiàn)***溫度控制操作。

詳情介紹：

介電常數(shù)介電溫譜測定儀

技術(shù)突破

1.溫度波動(dòng)小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍
介電常數(shù)介電溫譜測定儀系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙障蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。
2.大幅降低電網(wǎng)諧波對采集精度的影響
華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新的特殊參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測試需求。
3.取消不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能，實(shí)現(xiàn)更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部障蔽
得益于***自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。快達(dá)5ms的測試速度及高達(dá)50M的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
4.專用高頻測試線纜，更適合高頻測量
測試引線使用4端子對配置以擴(kuò)展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時(shí)測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計(jì)兩層障蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.更強(qiáng)的擴(kuò)展能力，實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用
多功能近紅外加熱爐，可實(shí)現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下電學(xué)測試；
采用鉑金材料作為測量導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測試精度；
設(shè)備配置水冷裝置，降溫速度更快、效率更高；
可實(shí)現(xiàn)介電溫譜、介電頻譜等測量功能；
進(jìn)口溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制；
近紅外加熱，樣品受熱更均勻，不存在感應(yīng)電流；
10寸進(jìn)口觸摸屏設(shè)計(jì)，一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu)，更加穩(wěn)定、可靠；
采用進(jìn)口高頻測試線，抗干擾能力更強(qiáng)，采集精度更高；
99氧化鋁陶瓷絕緣，配和鉑金電極夾具；
Huace pro強(qiáng)大的控制分析軟件與功能測試平臺(tái)系統(tǒng)相互兼容。
2.更強(qiáng)大的操作軟件
介電常數(shù)介電溫譜測定儀測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合功能材料的各項(xiàng)測試需求，具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作防護(hù)性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。支持新的國際標(biāo)準(zhǔn)，兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
軟件兼容：Huace（6500、6800）、Keysight（ E4990、E4991、E4980A）、waynekerr（6500B、6530、4235）同惠（2983、 2838、2851）等阻抗分析儀表。
3.更強(qiáng)大的硬件配置
集成Intel@Celeron 1037U -1.8GHZ雙核處；
集成打機(jī)印接口，可擴(kuò)充8個(gè)USB接口；
支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行。
4.不一樣的加溫方式及更多的應(yīng)用場景
勻速度加熱試驗(yàn) 環(huán)境：氣氛材料：陶瓷；
階梯式加熱試驗(yàn) 環(huán)境：真空材料：云母；
熱循環(huán)試驗(yàn) 環(huán)境：氣氛材料：超材料；
降溫試驗(yàn) 環(huán)境：真空材料：云母；
加速度升溫（反射爐）環(huán)境：氣氛材料：超材料。

產(chǎn)品優(yōu)勢

1.高速加熱與降溫方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體降溫裝置，可實(shí)現(xiàn)快速降溫。
2.溫度高精度控制
近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以更準(zhǔn)地控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外，降溫速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
3.不同環(huán)境下的加熱與降溫
加熱/降溫可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/降溫室。

產(chǎn)品參數(shù)

模式選擇：根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式
測量方式：軟件可進(jìn)行介電溫譜與介電頻譜
溫度設(shè)置：可設(shè)置升溫速度、降溫速度、溫度上限、測量等待時(shí)間等
測量參數(shù)：ε介電常數(shù)、（ε'、ε''介電常數(shù)實(shí)部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實(shí)部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實(shí)部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實(shí)部與虛部）、Y導(dǎo)納、Y’、Y''（導(dǎo)納實(shí)部與虛部）、X電抗、Q品質(zhì)因數(shù)、cole-cole圖譜、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、等
測量頻率：軟件可設(shè)置測試的頻率
數(shù)據(jù)處理：測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式
溫度范圍：RT-800 (上限1650)°C
控溫精度：±0.25℃
升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）
測試頻率：10Hz~120MHz
加熱方式：近紅外加熱
降溫方式：水冷
輸入電壓：220V
樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm
電極材料：鉑金
夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷
絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
測試功能：介電溫譜、頻譜
數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口
設(shè)備尺寸：600×500×350mm

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產(chǎn)品名稱：介電常數(shù)介電溫譜測定儀

介電常數(shù)介電溫譜測定儀

技術(shù)突破

產(chǎn)品特點(diǎn)

產(chǎn)品優(yōu)勢

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